报告题目：电子束敏感晶态材料的电子显微成像

报 告 人：韩  宇 教授

邀 请 人：乔智威 教授

主 持 人：吴玉芳 副教授

报告时间：2024年7月1日（周一）10:00-11:00

报告地点：生化楼113会议室

报告人简介：

韩宇教授于2003年在吉林大学获得博士学位，2003-2008年在新加坡A-Star任研究科学家，2009至2023年任职沙特阿卜杜拉国王科技大学，是化学和化学工程系教授。2023年9月，入职华南理工大学，担任电子显微中心主任。韩宇博士主要从事多孔材料的合成与应用（催化、分离、水处理），以及电子束敏感材料的高分辨电子显微成像方面的研究，是超低剂量电子显微成像技术的联合发明人。发表学术论文400余篇，包括权威期刊如Nature、Science、Nature Nanotechnology、Nature Chemistry、Nature Materials等，总引用次数超过45,000，H-index：108。韩宇教授2004年被麻省理工学院《科技评论》杂志评选为百名青年发明家，2006年获新加坡青年科学家奖；2008年获Thomson Reuters Research Fronts Award（汤姆逊研究前沿奖）；2016年入选中国国家重大人才工程计划；2021年获德国洪堡研究奖；2019-2023连续5年被评为科睿唯安（Clarivate Analytics）高被引学者。

报告简介：

本次报告将介绍团队关于使用超低电子剂量电子显微技术对电子束敏感材料进行高分辨率成像的研究工作，主要讨论以下进展：1.基于电子直读相机的使用、图像采集和图像处理方法的创新，开发了超低剂量透射电子显微技术（Ultralow-dose TEM），从而首次实现了对电子束高度敏感的晶态材料的原子分辨率成像。2.证明了积分差分相位衬度扫描透射电子显微成像技术（iDPC-STEM）可以在低剂量条件下为电子束敏感材料获取直接可解释的原子分辨率图像。3.发展了一套基于冷冻聚焦离子束（cryo-FIB）技术的TEM样品制备流程。这种方法有效地扩展了低剂量成像技术的应用范围，从纳米材料延伸至体相材料。4.将讨论4D-STEM在高度电子束敏感材料成像方面的巨大潜力，并提供初步实验结果以证明其可行性。